HJAS2875A低頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)
低頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由=測試裝置(夾具)、介電常數(shù)測試主機、組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。
主要參數(shù):
工作頻率范圍:1KHz~200kHz精度:±0.01%
電容測量范圍:0.0001pF~99.99mF五位數(shù)顯
電容測量基本誤差:±0.05%
損耗因素D值范圍:0.0001~9.9999五位數(shù)顯
HJAS2875B低頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由=測試裝置(夾具)、介電常數(shù)測試主機、組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。
主要參數(shù):
工作頻率范圍:20Hz~1MHz精度:±0.01%
電容測量范圍:0.00001pF~9.99999F六位數(shù)顯
電容測量基本誤差:±0.05%
損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999六位數(shù)顯